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多檢體納米粒徑測量係統

產品時間:2020-06-30

產品型號:nanoSAQLA

廠商性質:生產廠家

簡要描述:

多檢體納米粒徑測量係統nanoSAQLA利用光的散射簡單且輕鬆的測量粒徑。最大可連續測量5個樣品。

 多檢體納米粒徑測量係統 nanoSAQLA

多檢體納米粒徑量測係統nanoSAQLa

多檢體納米粒徑測量係統nanoSAQLA利用動態光散射法(DLS法)的粒徑測量(粒徑0.6nm~10μm)儀器。

追求更高品質管理的需求,搭載了各種功能。

可對應檢體範圍廣,低濃度~高濃度類,新光學係,輕便•小型,實驗室標配。實現標準1分鍾高速測量。

新產品,非浸泡型,不受夾雜物的影響,無自動取樣器,“5檢體連續測量”的標準設備。

特點

  • 隻需一台,輕鬆實現5檢體連續測量
  • 低濃度到高濃度都可對應
  • 高速測量,標準時間1分鍾
  • 搭載了簡單的測量功能 (1鍵測量)
  • 內置非浸泡型的cell block,無分注夾雜物
  • 搭載溫度梯度功能

測量範圍(理論值)

  • 粒徑 0.6nm~10μm
  • 濃度範圍 0.00001~40%
  • 溫度範圍 0~90℃*

式樣

型號 多檢體納米粒徑測量係統
測量原理 動態光散射法
光源 高出力半導體激光*1
檢出器 高感光度APD
連續測量 5檢體
測量範圍 0.6nm ~ 10μm
對應濃度 0.00001 ~ 40% *2
溫度 0 ~ 90℃ (有溫度梯度功能) *3
規格 遵照 ISO 22412:2017
遵照JIS Z 8828:2013
遵照JIS Z 8826:2005
尺寸 W240 X D480 X H375 mm
重量 約18 kg
軟件 平均粒徑解析 (累積法解析)
粒度分布解析
(Marquardt法/NNLS/Contin法/Unimodal法)
粒度分布疊寫
逆相關函數?殘差plot
粒徑monitor
粒徑顯示範圍 (0.1 ~ 106 nm)
分子量計算功能

 

*1 根據激光安全基準 (JIS C6802)級別區分,本儀器的安全級別為1級。
*2 Latex120nm:0.00001 ~ 10%、牛黃膽酸:~40%
*3 標準glass cell的批量測量的情況。
一次性cell或連續測量時, 15 ~ 40℃ (不對應溫度梯度)

 

測量範例

01.png

 

a02.jpg

 

03.png

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