歡迎進入向日葵app视频污下载入口電子(蘇州)有限公司!
產品分類
您現在的位置:首頁 > 新聞中心 > 怎樣正確使用幹渉式膜厚儀

怎樣正確使用幹渉式膜厚儀

  • 發布日期:2020-09-01      瀏覽次數:103
    •    怎樣正確使用幹渉式膜厚儀
        幹渉式膜厚儀常用到的方法是探針法,它通常是測量不透明薄膜(例如金屬)的方法。光學法是通過測量光與薄膜如何相互作用來檢測薄膜的特性。光學法可以測量薄膜的厚度、粗糙度及光學參量。光學參量是用來描述光如何通過一種物質進行傳播和反射的。
        在現代科學技術中,薄膜已有廣泛的應用。薄膜厚度是薄膜性能參數的重要指標,薄膜厚度是否均勻一致是檢測薄膜各項性能的基礎。目前,兩類主要的薄膜測量是基於光學和探針的方法。探針法測量厚度及粗糙度是通過監測精細探針劃過薄膜表麵時的偏移。探針法在測量速度和精度上受限,並且測量厚度時需要在薄膜裏作一個“台階”。
        幹渉式膜厚儀的正確使用步驟如下:
        測定準備
        (1)確保電池正負極方向正確無誤後設定。
        (2)探頭的選擇和設定:在探頭上有電磁式和渦電流式2種類型。對準測定對象,在本體上進行設定。
        測定方法
        (1)探頭的選擇和安裝方法:確認電源處於OFF狀態,與測定對象的質地材質接觸,安裝LEP-J或LHP-J。
        (2)調整:確認測定對象已經被調整。未調整時要進行調整。
        (3)測定:在探頭的末端加一定的負荷,即使用[一點接觸定壓式]。抓住與測定部接近的部分,迅速在與測定麵成垂直的角度按下。下述的測定,每次都要從探頭的前端測定麵開始離開10mm以上。使用管狀的東西連續測定平麵時,如果采用探頭適配器,可以更加穩定地進行測定。
        幹渉式膜厚儀可以無損傷、快速、精密地測量塗、鍍層厚度。廣泛應用於製造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域,是材料表麵處理工程必備儀器。可以穩定地工作於實驗室、車間現場和戶外。
     
    QQ在線谘詢
    谘詢熱線
    86-0512-62589919
    掃一掃訪問手機站掃一掃訪問手機站
    訪問手機站